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English13.8 A 32kb SRAM for error-free and error-tolerant applications with dynamic energy-quality management in 28nm CMOS2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC) / Fabio, Frustaci; Mahmood, Khayatzadeh; David, Blaauw; Dennis, Sylvester; Alioto, MASSIMO BRUNO CRIS. - (2014), pp. 244-245. ((Intervento presentato al convegno 2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC).
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| Titolo: | 13.8 A 32kb SRAM for error-free and error-tolerant applications with dynamic energy-quality management in 28nm CMOS2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC) |
| Autori: | |
| Anno: | 2014 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11365/47188 |
| ISBN: | 9781479909186 9781479909209 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| C117-A 32kb SRAM for Error-Free and Error-Tolerant Applications with Dynamic Energy-Quality Management in 28nm CMOS.pdf | Post-print | NON PUBBLICO - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
http://hdl.handle.net/11365/47188
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