Fabio, F., Mahmood, K., David, B., Dennis, S., & Alioto, M.B.C. (2014). 13.8 A 32kb SRAM for error-free and error-tolerant applications with dynamic energy-quality management in 28nm CMOS2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC). In 2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC) (pp.244-245) [10.1109/ISSCC.2014.6757419].

13.8 A 32kb SRAM for error-free and error-tolerant applications with dynamic energy-quality management in 28nm CMOS2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC)

ALIOTO, MASSIMO BRUNO CRIS
2014

9781479909186
9781479909209
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