Measurement of the t(t)over-bar production cross section in p(p)over-bar collisions at root s=1.8 TeV

Affolder, T.; Akimoto, H.; Akopian, A.; Albrow, M. G.; Amaral, P.; Amendolia, S. R.; Amidei, D.; Anikeev, K.; Antos, J.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Asakawa, T.; Ashmanskas, W.; Azfar, F.; Azzi Bacchetta, R.; Bacchetta, N.; Bailey, M. W.; Bailey, S.; Barbaro, P. d.; Barbaro Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Barone, M.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Belforte, S.; Bell, W. H.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Bensinger, J.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Berryhill, J.; Bevensee, B.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bishai, M.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bloom, K.; Blumenfeld, B.; Blusk, S. R.; Bocci, A.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolla, G.; Bonushkin, Y.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Brandl, A.; Den, S. v.; Bromberg, C.; Brozovic, M.; Bruner, N.; Buckley Geer, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon Wagner, A.; Byrum, K. L.; Calafiura, P.; Campbell, M.; Carithers, W.; Carlson, J.; Carlsmith, D.; Caskey, W.; Cassada, J.; Castro, A.; Cauz, D.; Cerri, A.; Chan, A. W.; Chang, P. S.; Chang, P. T.; Chapman, J.; Chen, C.; Chen, Y. C.; Cheng, M. T.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chirikov Zorin, I.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Christofek, L.; Chu, M. L.; Chung, Y. S.; Ciobanu, C. I.; Clark, A. G.; Connolly, A.; Conway, J.; Cordelli, M.; Cranshaw, J.; Cronin Hennessy, D.; Cropp, R.; Culbertson, R.; Dagenhart, D.; D'Auria, S.; Dejongh, F.; Dell'Agnello, S.; Dell'Orso, M.; Demortier, L.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dittmann, J. R.; Donati, S.; Done, J.; Dorigo, T.; Eddy, N.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Engels, E.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Feild, R. G.; Fernandez, J. P.; Ferretti, C.; Field, R. D.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Fukui, Y.; Furic, I.; Galeotti, S.; Gallinaro, M.; Gao, T.; Garcia Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gatti, P.; Gay, C.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giromini, P.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldstein, J.; Gordon, A.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Green, C.; Grim, G.; Gris, P.; Groer, L.; Grosso Pilcher, C.; Guenther, M.; Guillian, G.; J. G., Da; Haas, R. M.; Haber, C.; Hafen, E.; Hahn, S. R.; Hall, C.; Handa, T.; Handler, R.; Hao, W.; Happacher, F.; Hara, K.; Hardman, A. D.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Heinrich, J.; Heiss, A.; Herndon, M.; Hill, C.; Hoffman, K. D.; Holck, C.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Hughes, R.; Huston, J.; Huth, J.; Ikeda, H.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iwai, J.; Iwata, Y.; James, E.; Jones, M.; Joshi, U.; Kambara, H.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Karr, K.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keaffaber, T. A.; Kelley, K.; Kelly, M.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Khazins, D.; Kikuchi, T.; Kilminster, B.; Kim, B. J.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirby, M.; Kirk, M.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Koehn, P.; Kongeter, A.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Korn, A.; Korytov, A.; Kovacs, E.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuhlmann, S. E.; Kurino, K.; Kuwabara, T.; Laasanen, A. T.; Lai, N.; Lami, S.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Lancaster, J.; Lancaster, M.; Lander, R.; Latino, G.; Lecompte, T.; Lee, A. M.; Lee, K.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Lindgren, M.; Liu, J. B.; Liu, Y. C.; Litvintsev, D. O.; Lobban, O.; Lockyer, N.; Loken, J.; Loreti, M.; Lucchesi, D.; Lukens, P.; Lusin, S.; Lyons, L.; Lys, J.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Malferrari, L.; Mangano, M.; Mariotti, M.; Martignon, G.; Martin, A.; J. A. J.,; Mayer, J.; Mazzanti, P.; Mcfarland, K. S.; Mcintyre, P.; Mckigney, E.; Menguzzato, M.; Menzione, A.; Mesropian, C.; Meyer, A.; Miao, T.; Miller, R.; Miller, J. S.; Minato, H.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Mitselmakher, G.; Moggi, N.; Moore, E.; Moore, R.; Morita, Y.; Moulik, T.; Mulhearn, M.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Munar, A.; Murat, P.; Murgia, S.; Nachtman, J.; Nagaslaev, V.; Nahn, S.; Nakada, H.; Nakaya, T.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nelson, T.; Neu, C.; Neuberger, D.; Newman Holmes, C.; C. Y. R.,; Niu, H.; Nodulman, L.; Nomerotski, A.; S. H., Oh; Ohmoto, T.; Ohsugi, T.; Oishi, R.; Okusawa, T.; Olsen, J.; Orejudos, W.; Pagliarone, C.; Palmonari, F.; Paoletti, Riccardo; Papadimitriou, V.; Pappas, S. P.; Partos, D.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Pescara, L.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pitts, K. T.; Pompos, A.; Pondrom, L.; Pope, G.; Popovic, M.; Prokoshin, F.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Pukhov, O.; Punzi, G.; Ragan, K.; Rakitine, A.; Reher, D.; Reichold, A.; Ribon, A.; Riegler, W.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Riveline, M.; Robertson, W. J.; Robinson, A.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Rosenson, L.; Roser, R.; Rossin, R.; Roy, A.; Safonov, A.; Denis, R. S.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sanchez, C.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sato, H.; Savard, P.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Scodellaro, L.; Scott, A.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Semeria, F.; Shah, T.; Shapiro, M. D.; Shepard, P. F.; Shibayama, T.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Sidoti, A.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Slaughter, A. J.; Sliwa, K.; Smith, C.; Snider, F. D.; Solodsky, A.; Spalding, J.; Speer, T.; Sphicas, P.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Spiegel, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Strologas, J.; Strumia, F.; Stuart, D.; Sumorok, K.; Suzuki, T.; Takano, T.; Takashima, R.; Takikawa, K.; Tamburello, P.; Tanaka, M.; Tannenbaum, B.; Taylor, W.; Tecchio, M.; Tesarek, R.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Tether, S.; Thompson, A. S.; Thurman Keup, R.; Tipton, P.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tollestrup, A.; Toyoda, H.; Trischuk, W.; J. F., De; Tseng, J.; Turini, Nicola; Ukegawa, F.; Vaiciulis, T.; Valls, J.; Vejcik, S.; Velev, G.; Vidal, R.; Vilar, R.; Volobouev, I.; Vucinic, D.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wahl, J.; Wallace, N. B.; Walsh, A. M.; Wang, C.; Wang, M. J.; Watanabe, T.; Waters, D.; Watts, T.; Webb, R.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkes, T.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Winn, D.; Wolbers, S.; Wolinski, D.; Wolinski, J.; Wolinski, S.; Worm, S.; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yao, W.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yoh, J.; Yosef, C.; Yoshida, T.; Yu, I.; Yu, S.; Yu, Z.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevD.64.032002

We update the measurement of the t (t) over bar production cross section using the CDF detector at the Fermilab Tevatron. This measurement uses t (t) over bar decays to the final states e + nu + jets and mu + nu + jets. We search for b quarks from t decays via secondary-vertex identification or the identification of semileptonic decays of the b and cascade c quarks. The background to the t (t) over bar production is determined primarily through a Monte Carlo simulation. However, we calibrate the simulation and evaluate its uncertainty using several independent data samples. For a top quark mass of 175 GeV/c(2), we measure sigma (t (t) over bar)-=5.1 +/- 1.5 pb and sigma (t (t) over bar)=9.2 +/- 4.3 pb using the secondary vertex and the lepton tagging algorithms, respectively. Finally, we combine these results with those from other t (t) over bar decay channels and obtain sigma (t (t) over bar)-= 6.5 (+1.7)(-1.4)pb.

T., A., H., A., A., A., M. G., A., P., A., S. R., A., et al. (2001). Measurement of the t(t)over-bar production cross section in p(p)over-bar collisions at root s=1.8 TeV. PHYSICAL REVIEW D, 64(3) [10.1103/PhysRevD.64.032002].