Observation of diffractive J/psi production at the Fermilab Tevatron

Affolder, T.; Akimoto, H.; Akopian, A.; Albrow, M. G.; Amaral, P.; Amidei, D.; Anikeev, K.; Antos, J.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Artikov, A.; Asakawa, T.; Ashmanskas, W.; Azfar, F.; Azzi Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Bachacou, H.; Bailey, S.; Barbaro, P. d.; Barbaro Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Barone, M.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Belforte, S.; Bell, W. H.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Bensinger, J.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Berryhill, J.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bishai, M.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bloom, K.; Blumenfeld, B.; Blusk, S. R.; Bocci, A.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolla, G.; Bonushkin, Y.; Borras, K.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Brandl, A.; Den, S. v.; Bromberg, C.; Brozovic, M.; Brubaker, E.; Bruner, N.; Buckley Geer, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon Wagner, A.; Byrum, K. L.; Cabrera, S.; Calafiura, R.; Campbell, M.; Carithers, W.; Carlson, J.; Carlsmith, D.; Caskey, W.; Castro, A.; Cauz, D.; Cerri, A.; Chan, A. W.; Chang, P. S.; Chang, P. T.; Chapman, J.; Chen, C.; Chen, Y. C.; Cheng, M. T.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chirikov Zorin, I.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Christofek, L.; Chu, M. L.; Chung, Y. S.; Ciobaru, C. I.; Clark, A. G.; Connolly, A.; Convery, M. E.; Conway, J.; Cordelli, M.; Cranshaw, J.; Cropp, R.; Culbertson, R.; Dagenhart, D.; D'Auria, S.; Dejongh, F.; Dell'Agnello, S.; Dell'Orso, M.; Demortier, L.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dittmann, J. R.; Dominguez, A.; Donati, S.; Done, J.; D'Onofrio, M.; Dorigo, T.; Eddy, N.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Engels, E.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Feild, R. G.; Fernandez, J. P.; Ferretti, C.; Field, R. D.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Fukui, Y.; Furic, I.; Galeotti, S.; Gallas, A.; Gallinaro, M.; Gao, T.; Garcia Sciveres, M.; Garfinkel, A. R.; Gatti, P.; Gay, C.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldstein, J.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Green, C.; Grim, G.; Gris, P.; Groer, L.; Grosso Pilcher, C.; Guenther, M.; Guillian, G.; J. G., Da; Haas, R. M.; Haber, C.; Hahn, S. R.; Hall, C.; Handa, T.; Handler, R.; Hao, W.; Happacher, F.; Hara, K.; Hardman, A. D.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Heinrich, J.; Heiss, A.; Herndon, M.; Hill, C.; Hoffman, K. D.; Holck, C.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Hughes, R.; Huston, J.; Huth, J.; Ikeda, H.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iwai, J.; Iwata, Y.; James, E.; Jones, M.; Joshi, U.; Kambara, H.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Karr, K.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keaffaber, T. A.; Kelley, K.; Kelly, M.; Kennedy, R. D.; Kepham, R.; Khazins, D.; Kikuchi, T.; Kilminster, B.; Kim, B. J.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, M. J.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirby, M.; Kirk, M.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Koehn, P.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Korn, A.; Korytov, A.; Kovacs, E.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuhlmann, S. E.; Kurino, K.; Kuwabara, T.; Laasanen, A. T.; Lai, N.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, J.; Lancaster, M.; Lander, R.; Lath, A.; Latino, G.; Lecompte, T.; Lee, A. M.; Lee, K.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Liu, J. B.; Liu, Y. C.; Litvintsev, D. O.; Lobban, O.; Lockyer, N.; Loken, J.; Loreti, M.; Lucchesi, D.; Lukens, P.; Lusin, S.; Lyons, L.; Lys, J.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Malferrari, L.; Mangano, M.; Mariotti, M.; Martignon, G.; Martin, A.; J. A. J.,; Mayer, J.; Mazzanti, P.; Mcfarland, K. S.; Mcintyre, P.; Mckigney, E.; Menguzzato, M.; Menzione, A.; Mesropian, C.; Meyer, A.; Miao, T.; Miller, R.; Miller, J. S.; Minato, H.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Mitselmakher, G.; Moggi, N.; Moore, E.; Moore, R.; Morita, Y.; Moulik, T.; Mulhearn, M.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Munar, A.; Murat, P.; Murgia, S.; Nachtman, J.; Nagaslaev, V.; Nahn, S.; Nakada, H.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nelson, T.; Neu, C.; Neuberger, D.; Newman Holmes, C.; C. Y. P.,; Niu, H.; Nodulman, L.; Nomerotski, A.; S. H., Oh; Y. D., Oh; Ohmoto, T.; Ohsugi, T.; Oishi, R.; Okusawa, T.; Olsen, J.; Orejudos, W.; Pagliarone, C.; Palmonari, F.; Paoletti, Riccardo; Papadimitriou, V.; Partos, D.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Pellett, D.; Pescara, L.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pitts, K. T.; Pompos, A.; Pondrom, L.; Pope, G.; Popovic, M.; Prokoshin, F.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Pukhov, O.; Punzi, G.; Rakitine, A.; Ratnikov, F.; Reher, D.; Reichold, A.; Ribon, A.; Riegler, W.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Riveline, M.; Robertson, W. J.; Robinson, A.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Rosenson, L.; Roser, R.; Rossin, R.; Roy, A.; Ruiz, A.; Safonov, A.; Denis, R. S.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sanchez, C.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sato, H.; Savard, P.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Scodellaro, L.; Scott, A.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Semeria, F.; Shah, T.; Shapiro, M. D.; Shepard, P. F.; Shibayama, T.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Sidoti, A.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Slaughter, A. J.; Sliwa, K.; Smith, C.; Snider, F. D.; Solodsky, A.; Spalding, J.; Speer, T.; Sphicas, R.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Spiegel, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Strologas, J.; Strumia, F.; Stuart, D.; Sumorok, K.; Suzuki, T.; Takano, T.; Takashima, R.; Takikawa, K.; Tamburello, P.; Tanaka, M.; Tannenbaum, B.; Tecchio, M.; Tesarek, R.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Tether, S.; Thompson, A. S.; Thurman Keup, R.; Tipton, R.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tollestrup, A.; Tonelli, D.; Toyoda, H.; Trischuk, W.; J. F., De; Tseng, J.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Vaiciulis, T.; Valls, J.; Vejcik, S.; Velev, G.; Veramendi, G.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Volobouev, I.; Der, M. v.; Vucinic, D.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wallace, N. B.; Wan, Z.; Wang, C.; Wang, M. J.; Ward, B.; Waschke, S.; Watanabe, T.; Waters, D.; Watts, T.; Webb, R.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkes, T.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Winn, D.; Wolbers, S.; Wolinski, D.; Wolinski, J.; Wolinski, S.; Worm, S.; Wu, X.; Wyss, J.; Yao, W.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yoh, J.; Yosef, C.; Yoshida, T.; Yu, I.; Yu, S.; Yu, Z.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevLett.87.241802

We report the first observation of diffractive J/psi(--> mu (+)mu (-)) production in <(p)power bar> collisions at roots = 1.8 TeV. Diffractive events are identified by their rapidity gap signature. In a sample of events with two muons of transverse momentum p(T)(mu) > 2 GeV/c within the pseudorapidity region eta < 1.0, the ratio of diffractive to total J/ production rates is found to be R-J/psi = [1.45 +/- 0.25]%. ne ratio R-J/psi(X) is presented as a function of x-Bjorken. By combining it with our previously measured corresponding ratio R-jj(x) for diffractive dijet production, we extract a value of 0.59 +/- 0.15 for the gluon fraction of the diffractive structure function of the proton.

T., A., H., A., A., A., M. G., A., P., A., D., A., et al. (2001). Observation of diffractive J/psi production at the Fermilab Tevatron. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 87(24) [10.1103/PhysRevLett.87.241802].