Measurement of (p)over-bar-p Single Diffraction Dissociation At Root-s=546 and 1800 Gev

Abe, F.; Albrow, M.; Amidei, D.; Anwaywiese, C.; Apollinari, G.; Atac, M.; Auchincloss, P.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Baden, A. R.; Badgett, W.; Bailey, M. W.; Bamberger, A.; Debarbaro, P.; Barbarogaltieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Bauer, G.; Baumann, T.; Bedeschi, F.; Behrends, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Benlloch, J.; Bensinger, J.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Bertolucci, S.; Biery, K.; Bhadra, S.; Binkley, M.; Bisello, D.; Blair, R.; Blocker, C.; Bodek, A.; Bolognesi, V.; Booth, A. W.; Boswell, C.; Brandenburg, G.; Brown, D.; Buckleygeer, E.; Budd, H. S.; Busetto, G.; Byonwagner, A.; Byrum, K. L.; Campagnari, C.; Campbell, M.; Caner, A.; Carey, R.; Carithers, W.; Carlsmith, D.; Carroll, J. T.; Cashmore, R.; Castro, A.; Cen, Y.; Cervelli, F.; Chadwick, K.; Chapman, J.; Chapin, T. J.; Chiarelli, G.; Chinowsky, W.; Cihangir, S.; Clark, A. G.; Cobal, M.; Connor, D.; Contreras, M.; Cooper, J.; Cordelli, M.; Crane, D.; Cunningham, J. D.; Day, C.; Dejongh, F.; Dellagnello, S.; Dellorso, M.; Demortier, L.; Denby, B.; Derwent, F.; Devlin, T.; Dickson, M.; Drucker, R. B.; Dunn, A.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Ely, R.; Eno, S.; Errede, S.; Etchegoyen, A.; Farhat, B.; Frautschi, M.; Feldman, G. J.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J.; Fuess, T.; Fukui, Y.; Garfinkel, A. F.; Gauthier, A.; Geer, S.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giokaris, N.; Giromini, P.; Gladney, L.; Gold, M.; Gonzalez, J.; Goulianos, K.; Grassmann, H.; Grieco, G. M.; Grindley, R.; Grossopilcher, C.; Haber, C.; Hahn, S. R.; Handler, R.; Hara, K.; Harral, B.; Harris, R. M.; Hauger, S. A.; Hauser, J.; Hawk, C.; Hessing, T.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Holscher, A.; Hong, S.; Houk, G.; Hu, P.; Hubbard, B.; Huffman, B. T.; Hughes, R.; Hurst, P.; Huth, J.; Hylen, J.; Incagli, M.; Ino, T.; Iso, H.; Jessop, C. P.; Johnson, R. P.; Joshi, U.; Kadel, R. W.; Kamon, T.; Kanda, S.; Kardelis, D. A.; Karliner, I.; Kearns, E.; Keeble, L.; Kephart, R.; Kesten, P.; Keup, R. M.; Keutelian, H.; Kim, D.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirsch, L.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Kovacs, E.; Krasberg, M.; Kuhlmann, S. E.; Kuns, E.; Laasanen, A. T.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Li, W.; Limon, P.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Lockyer, N.; Loreti, M.; Low, E. H.; Lucchesi, D.; Luchini, C. B.; Lukens, P.; Maas, P.; Maeshima, K.; Mangano, M.; Marriner, J. P.; Mariotti, M.; Markeloff, R.; Markosky, A.; J. A. J.,; Mattingly, R.; Mcintyre, P.; Menzione, A.; Meschi, E.; Meyer, T.; Mikamo, S.; Miller, M.; Mimashi, T.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Miyashita, S.; Morita, Y.; Moulding, S.; Mueller, J.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Nakae, L. F.; Nakano, I.; Nelson, C.; Neuberger, D.; Newmanholmes, C.; J. S. T.,; Ninomiya, M.; Nodulman, L.; Ogawa, S.; Paoletti, Riccardo; Papadimitriou, V.; Para, A.; Pare, E.; Park, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Pescara, L.; Phillips, T. J.; Piacentino, A. G.; Plunkett, R.; Pondrom, L.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, G.; Quarrie, D.; Ragan, K.; Redlinger, G.; Rhoades, J.; Roach, M.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robertson, W. J.; Rodrigo, T.; Rohaly, T.; Roodman, A.; Sakumoto, W. K.; Sansoni, A.; Sard, R. D.; Savoynavarro, A.; Scarpine, V.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schneider, O.; Schub, M. H.; Schwitters, R.; Sciacca, G.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Sganos, G.; Shaw, N. M.; Sheaff, M.; Shochet, M.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Skarha, J.; Sliwa, K.; Smith, D. A.; Snider, F. D.; Song, L.; Song, T.; Spahn, M.; Sphicas, P.; Spies, A.; Stdenis, R.; Stanco, L.; Stefanini, A.; Sullivan, G.; Sumorok, K.; Swartz, R. L.; Takano, M.; Takikawa, K.; Tarem, S.; Tartarelli, F.; Tether, S.; Theriot, D.; Timko, M.; Tipton, P.; Tkaczyk, S.; Tollestrup, A.; Tonnison, J.; Trischuk, W.; Tsay, Y.; Tseng, J.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Underwood, D.; Vejcik, S.; Vidal, R.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wainer, N.; Walker, R. C.; Walsh, J.; Warburton, A.; Watts, G.; Watts, T.; Webb, R.; Wendt, C.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Westhusing, T.; White, S. N.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Williams, H. H.; Winer, R. L.; Wolinski, M.; D. Y., Wu; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yasuoka, K.; Ye, Y.; Yeh, G. P.; Joh, J.; Yokoyama, M.; Yun, J. C.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zhang, S.; Zhang, W.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevD.50.5535

We report a measurement of the diffraction dissociation differential cross section d(2) sigma(SD)/dM(2)dt for ($) over bar pp --> ($) over bar pX at root s = 546 and 1800 GeV, M(2)/s < 0.2 and 0 less than or equal to -t less than or equal to 0.4 GeV2. Our results are compared to theoretical predictions and to extrapolations from experimental results at lower energies.

F., A., M., A., D., A., C., A., G., A., M., A., et al. (1994). Measurement of (p)over-bar-p Single Diffraction Dissociation At Root-s=546 and 1800 Gev. PHYSICAL REVIEW D, 50(9), 5535-5549 [10.1103/PhysRevD.50.5535].