A precise measurement of the average b hadron lifetime

Buskulic, D.; Debonis, I.; Casper, D.; Decamp, D.; Ghez, P.; Goy, C.; Lees, J. P.; Lucotte, A.; Minard, M. N.; Odier, P.; Pietrzyk, B.; Ariztizabal, F.; Chmeissani, M.; Crespo, J. M.; Efthymiopoulos, I.; Fernandez, E.; Fernandezbosman, M.; Gaitan, V.; Orteu, S.; Pacheco, A.; Padilla, C.; Palla, F.; Pascual, A.; Teubert, F.; Colaleo, A.; Creanza, D.; Depalma, M.; Farilla, A.; Gelao, G.; Girone, M.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Marinelli, N.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Huang, X.; Lin, J.; Ouyang, Q.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, R.; Xue, S.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Bonvicini, G.; Cattaneo, M.; Comas, P.; Coyle, P.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Frank, M.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Jacobsen, R.; Janot, P.; Jost, B.; Knobloch, J.; Lehraus, I.; Markou, C.; Miquel, R.; Oest, T.; Palazzi, P.; Pater, J. R.; Martin, E. B.; Mato, P.; Minten, A.; Pusztaszeri, J. F.; Ranjard, F.; Rensing, P.; Rolandi, L.; Schlatter, D.; Schmelling, M.; Schneider, O.; Tejessy, W.; Tomalin, I. R.; Venturi, A.; Wachsmuth, H.; Wiedenmann, W.; Wildish, T.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Boyer, C.; Falvard, A.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Monteil, S.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Podlyski, F.; Proriol, J.; Rossignol, J. M.; Saadi, F.; Fearnley, T.; Hansen, J. B.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Nilsson, B. S.; Kyriakis, A.; Simopoulou, E.; Siotis, I.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Bourdon, P.; Passalacqua, L.; Rouge, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Valassi, A.; Verderi, M.; Videau, H.; Candlin, D. J.; Parsons, M. I.; Focardi, E.; Parrini, G.; Corden, M.; Delfino, M.; Georgiopoulos, C.; Jaffe, D. E.; Antonelli, A.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Chiarella, V.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Pepealtarelli, M.; Dorris, S. J.; Halley, A. W.; Tenhave, I.; Knowles, I. G.; Lynch, J. G.; Morton, W. T.; Oshea, V.; Raine, C.; Reeves, P.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Smith, M. G.; Thompson, A. S.; Thomson, F.; Thorn, S.; Turnbull, R. M.; Becker, U.; Braun, O.; Geweniger, C.; Graefe, G.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Putzer, A.; Rensch, B.; Schmidt, M.; Sommer, J.; Stenzel, H.; Tittel, K.; Werner, S.; Wunsch, M.; Abbaneo, D.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Colling, D. J.; Dornan, P. J.; Konstantinidis, N.; Moneta, L.; Moutoussi, A.; Nash, J.; Sanmartin, G.; Sedgbeer, J. K.; Stacey, A. M.; Dissertori, G.; Girtler, P.; Kneringer, E.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Colrain, P.; Crawford, G.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Sloan, T.; Whelan, E. P.; Williams, M. I.; Galla, A.; Greene, A. M.; Kleinknecht, K.; Quast, G.; Raab, J.; Renk, B.; Sander, H. G.; Vangemmeren, P.; Wanke, R.; Zeitnitz, C.; Aubert, J. J.; Bencheikh, A. M.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Bujosa, G.; Calvet, D.; Carr, J.; Diaconu, C.; Etienne, F.; Nicod, D.; Payre, P.; Rousseau, D.; Talby, M.; Thulasidas, M.; Abt, I.; Assmann, R.; Bauer, C.; Blum, W.; Brown, D.; Dietl, H.; Dydak, F.; Ganis, G.; Gotzhein, C.; Jakobs, K.; Kroha, H.; Lutjens, G.; Lutz, G.; Manner, W.; Moser, H. G.; Richter, R.; Rosadoschlosser, A.; Schael, S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stierlin, U.; Stdenis, R.; Wolf, G.; Alemany, R.; Boucrot, J.; Callot, O.; Cordier, A.; Courault, F.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. F.; Heusse, P.; Jacquet, M.; Kim, D. W.; Lediberder, F.; Lefrancois, J.; Lutz, A. M.; Musolino, G.; Nikolic, I.; Park, H. J.; Park, I. C.; Schune, M. H.; Simion, S.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Azzurri, P.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, MARIA AGNESE; Ciulli, V.; Dellorso, R.; Fantechi, R.; Ferrante, I.; Foa, L.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Marrocchesi, PIER SIMONE; Messineo, A.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Sciaba, A.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Vannini, C.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Betteridge, A. P.; Blair, G. A.; Bryant, L. M.; Cerutti, F.; Gao, Y.; Green, M. G.; Johnson, D. L.; Medcalf, T.; Mir, L. M.; Perrodo, P.; Strong, J. A.; Bertin, V.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Haywood, S.; Edwards, M.; Maley, P.; Norton, P. R.; Thompson, J. C.; Blochdevaux, B.; Colas, P.; Duarte, H.; Emery, S.; Kozanecki, W.; Lancon, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Marx, B.; Perez, P.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Rosowsky, A.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Simohand, D.; Trabelsi, A.; Vallage, B.; Johnson, R. P.; Kim, H. Y.; Litke, A. M.; Mcneil, M. A.; Taylor, G.; Beddall, A.; Booth, C. N.; Boswell, R.; Cartwright, S.; Combley, F.; Dawson, I.; Koksal, A.; Letho, M.; Newton, W. M.; Rankin, C.; Thompson, L. F.; Bohrer, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Feigl, E.; Grupen, C.; Lutters, G.; Minguetrodriguez, J.; Rivera, F.; Saraiva, P.; Smolik, L.; Stephan, F.; Apollonio, M.; Bosisio, L.; Dellamarina, R.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Ragusa, F.; Rothberg, J.; Wasserbaech, S.; Armstrong, S. R.; Bellantoni, L.; Elmer, P.; Feng, Z.; D. P. S.,; Gao, Y. S.; Gonzalez, S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Hayes, O. J.; Hu, H.; Mcnamara, P. A.; Nachtman, J. M.; Orejudos, W.; Pan, Y. B.; Saadi, Y.; Schmitt, M.; Scott, I. J.; Sharma, V.; Turk, J. D.; Walsh, A. M.; S. L., Wu; Wu, X.; Yamartino, J. M.; Zheng, M.; Zobernig, G.

doi:10.1016/0370-2693(95)01586-8

An improved measurement of the average b hadron lifetime is performed using a sample of 1.5 million hadronic Z decays, collected during the 1991-1993 runs of ALEPH, with the silicon vertex detector fully operational, This uses the three-dimensional impact parameter distribution of lepton tracks coming from semileptonic b decays and yields an average b hadron lifetime of 1.533 +/- 0.013 +/- 0.022 ps.

D., B., I., D., D., C., D., D., P., G., C., G., et al. (1996). A precise measurement of the average b hadron lifetime. PHYSICS LETTERS. SECTION B, 369(2), 151-162 [10.1016/0370-2693(95)01586-8].