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Alioto, M.B.C., G., P., M., P. (2009). Analysis of the Impact of Random Process Variations in CMOS Tapered Buffers. In Proc. of ICECS 2009 (pp.57-60).

Analysis of the Impact of Random Process Variations in CMOS Tapered Buffers

ALIOTO, MASSIMO BRUNO CRIS;
2009-01-01
2009
9781424450909
Alioto, M.B.C., G., P., M., P. (2009). Analysis of the Impact of Random Process Variations in CMOS Tapered Buffers. In Proc. of ICECS 2009 (pp.57-60).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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