Measurement of the charged-current electron (anti-)neutrino inclusive cross-sections at the T2K off-axis near detector ND280

Abe, K.; Akhlaq, N.; Akutsu, R.; Ali, A.; Alt, C.; Andreopoulos, C.; Anthony, L.; Antonova, M.; Aoki, S.; Ariga, A.; Arihara, T.; Asada, Y.; Ashida, Y.; Atkin, E. T.; Awataguchi, Y.; Ban, S.; Barbi, M.; Barker, G. J.; Barr, G.; Barrow, D.; Barry, C.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Beloshapkin, A.; Bench, F.; Berardi, V.; Berns, L.; Bhadra, S.; Bienstock, S.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bonus, T.; Bourguille, B.; Boyd, S. B.; Brailsford, D.; Bravar, A.; Bravo Berguno, D.; Bronner, C.; Bron, S.; Bubak, A.; Buizza Avanzini, M.; Calcutt, J.; Campbell, T.; Cao, S.; Cartwright, S. L.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chappell, A.; Checchia, C.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Christodoulou, G.; Cicerchia, M.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Cook, L.; Coplowe, D.; Cudd, A.; Dabrowska, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Denner, P. F.; Dennis, S. R.; Densham, C.; Di Lodovico, F.; Dokania, N.; Dolan, S.; Doyle, T. A.; Drapier, O.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Eguchi, A.; Eklund, L.; Emery-Schrenk, S.; Ereditato, A.; Fernandez, P.; Feusels, T.; Finch, A. J.; Fiorentini, G. A.; Fiorillo, G.; Francois, C.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fujita, R.; Fukuda, D.; Fukuda, R.; Fukuda, Y.; Fusshoeller, K.; Giganti, C.; Golan, T.; Gonin, M.; Gorin, A.; Guigue, M.; Hadley, D. R.; Haigh, J. T.; Hamacher-Baumann, P.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hassani, S.; Hastings, N. C.; Hayashino, T.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Holeczek, J.; Hong Van, N. T.; Honjo, T.; Iacob, F.; Ichikawa, A. K.; Ikeda, M.; Ishida, T.; Ishii, T.; Ishitsuka, M.; Iwamoto, K.; Izmaylov, A.; Izumi, N.; Jakkapu, M.; Jamieson, B.; Jenkins, S. J.; Jesus-Valls, C.; Jiang, M.; Johnson, S.; Jonsson, P.; Jung, C. K.; Junjie, X.; Jurj, P. B.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Karlen, D.; Kasetti, S. P.; Kataoka, Y.; Katayama, Y.; Katori, T.; Kato, Y.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kikawa, T.; Kikutani, H.; Kim, H.; King, S.; Kisiel, J.; Knight, A.; Knox, A.; Kobata, T.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Koga, T.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Kostin, A.; Kowalik, K.; Kubo, H.; Kudenko, Y.; Kukita, N.; Kuribayashi, S.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Kuze, M.; Labarga, L.; Lagoda, J.; Lamoureux, M.; Last, D.; Laveder, M.; Lawe, M.; Licciardi, M.; Lindner, T.; Litchfield, R. P.; Liu, S. L.; Li, X.; Longhin, A.; Ludovici, L.; Lu, X.; Lux, T.; Machado, L. N.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Manly, S.; Maret, L.; Marino, A. D.; Marti-Magro, L.; Martin, J. F.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matsushita, K.; Matveev, V.; Mauger, C.; Mavrokoridis, K.; Mazzucato, E.; Mccarthy, M.; Mccauley, N.; Mcelwee, J.; Mcfarland, K. S.; Mcgrew, C.; Mefodiev, A.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Miura, M.; Molina Bueno, L.; Moriyama, S.; Morrison, J.; Mueller, T. A.; Munteanu, L.; Murphy, S.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, A.; Nakamura, K. G.; Nakamura, K.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Nantais, C.; Naseby, C. E. R.; Ngoc, T. V.; Niewczas, K.; Nishikawa, K.; Nishimura, Y.; Noah, E.; Nonnenmacher, T. S.; Nova, F.; Novella, P.; Nowak, J.; Nugent, J. C.; O'Keeffe, H. M.; O'Sullivan, L.; Odagawa, T.; Ogawa, T.; Okada, R.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Oser, S. M.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Palomino, J. L.; Paolone, V.; Pari, M.; Parker, W. C.; Parsa, S.; Pasternak, J.; Paudyal, P.; Pavin, M.; Payne, D.; Penn, G. C.; Pickering, L.; Pidcott, C.; Pintaudi, G.; Pinzon Guerra, E. S.; Pistillo, C.; Popov, B.; Porwit, K.; Posiadala-Zezula, M.; Pritchard, A.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Radicioni, E.; Radics, B.; Ratoff, P. N.; Reinherz-Aronis, E.; Riccio, C.; Rondio, E.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruggeri, A. C.; Ruggles, C. A.; Rychter, A.; Sakashita, K.; Sanchez, F.; Santucci, G.; Schloesser, C. M.; Scholberg, K.; Schwehr, J.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shah, R.; Shaikhiev, A.; Shaker, F.; Shaykina, A.; Shiozawa, M.; Shorrock, W.; Shvartsman, A.; Smirnov, A.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Soler, F. J. P.; Sonoda, Y.; Steinmann, J.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Sztuc, A. A.; Tada, M.; Tajima, M.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tanaka, H. K.; Tanaka, H. A.; Tanaka, S.; Tanihara, Y.; Tani, M.; Teshima, N.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Towstego, T.; Tsui, K. M.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Vagins, M.; Valder, S.; Vallari, Z.; Vargas, D.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vinning, W. G. S.; Vladisavljevic, T.; Volkov, V. V.; Wachala, T.; Walker, J.; Walsh, J. G.; Wang, Y.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Wilson, J. R.; Wilson, R. J.; Wood, K.; Wret, C.; Yamada, Y.; Yamamoto, K.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yen, S.; Yershov, N.; Yokoyama, M.; Yoshida, T.; Yu, M.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.; Zykova, A.

doi:10.1007/JHEP10(2020)114

The electron (anti-)neutrino component of the T2K neutrino beam constitutes the largest background in the measurement of electron (anti-)neutrino appearance at the far detector. The electron neutrino scattering is measured directly with the T2K off-axis near detector, ND280. The selection of the electron (anti-)neutrino events in the plastic scintillator target from both neutrino and anti-neutrino mode beams is discussed in this paper. The flux integrated single differential charged-current inclusive electron (anti-)neutrino cross-sections, dσ/dp and dσ/d cos(θ), and the total cross-sections in a limited phase-space in momentum and scattering angle (p > 300 MeV/c and θ ≤ 45°) are measured using a binned maximum likelihood fit and compared to the neutrino Monte Carlo generator predictions, resulting in good agreement.

Abe, K., Akhlaq, N., Akutsu, R., Ali, A., Alt, C., Andreopoulos, C., et al. (2020). Measurement of the charged-current electron (anti-)neutrino inclusive cross-sections at the T2K off-axis near detector ND280. JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS, 2020(10), 1-42 [10.1007/JHEP10(2020)114].