Cinotti, E., Perrot, J.L., Rubegni, P. (2020). Beware of reflectance confocal microscopy artifacts when searching hyphae in acral skin. ANAIS BRASILEIROS DE DERMATOLOGIA, 95(1), 129-130 [10.1016/j.abd.2019.04.013].
Beware of reflectance confocal microscopy artifacts when searching hyphae in acral skin
Cinotti, Elisa
;Rubegni, Pietro
2020-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
Beware of reflectance.pdf
accesso aperto
Descrizione: Articolo
Tipologia:
PDF editoriale
Licenza:
Creative commons
Dimensione
951.87 kB
Formato
Adobe PDF
|
951.87 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11365/1105324