Richiedi una copia del documento: 13.8 A 32kb SRAM for error-free and error-tolerant applications with dynamic energy-quality management in 28nm CMOS2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC)

L’utente di Usiena air si impegna ad utilizzare i documenti ricevuti in full-text esclusivamente per scopi di ricerca e/o studio. E’ comunque escluso qualsiasi uso commerciale.

Captcha code
Annulla