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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File Abstract
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Quartz crystal microbalance sensors based on TiO2 nanoparticles for gas sensing 1-gen-2017 Addabbo, Tommaso; Fort, Ada; Mugnaini, Marco; Tani, Marco; Vignoli, Valerio; Bruzzi, Mara -
Real time car passengers comfort monitoring by means of environmental and vibrational measurements 1-gen-2021 Fort, A.; Landi, E.; Mugnaini, M.; Parri, L.; Pozzebon, A.; Vignoli, V. -
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Reliability and availability of industrial bakery plant: Modeling and analysis. A case study 1-gen-2016 Bertocci, Francesco; Mugnaini, Marco; Fort, Ada; Vignoli, Valerio; Spicciarelli, Laura -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) 181
  • 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno 181
Autore
  • FORT, ADA 169
  • MUGNAINI, MARCO 125
  • ADDABBO, TOMMASO 92
  • ROCCHI, SANTINA 85
  • MORETTI, RICCARDO 22
  • LANDI, ELIA 20
  • ALIOTO, MASSIMO BRUNO CRIS 19
  • PANZARDI, ENZA 16
  • POZZEBON, ALESSANDRO 15
  • PARRI, LORENZO 14
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 38
  • 2010 - 2019 85
  • 2000 - 2009 52
  • 1992 - 1999 6
Editore
  • Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 67
  • IEEE 32
  • Springer 6
  • Springer Verlag 6
  • IMEKO-International Measurement Federation Secretariat 4
  • IEEE Computer Society 3
  • Elsevier 2
  • European Association of Geoscientists and Engineers, EAGE 2
  • International Measurement Confederation (IMEKO) 2
  • AMER INST PHYSICS 1
Rivista
  • CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE 11
  • IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS PROCEEDINGS 9
  • PROCEDIA ENGINEERING 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
Serie
  • CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE 11
  • LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGINEERING 10
  • IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS PROCEEDINGS 3
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 3
  • LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGINEERING 2
  • ... IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE. 1
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
  • IEEE ... INTERNATIONAL NEW CIRCUITS AND SYSTEMS CONFERENCE 1
  • IEEE METROLOGY FOR AEROSPACE 1
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 1
Keyword
  • Electrical and Electronic Engineering 13
  • Instrumentation 11
  • Industrial and Manufacturing Engineering 9
  • IoT 8
  • LoRaWAN 7
  • LoRa 5
  • Hardware and Architecture 4
  • Reliability 4
  • Aerospace Engineering 3
  • Availability 3
Lingua
  • eng 179
  • ita 2
Accesso al fulltext
  • reserved 160
  • no fulltext 17
  • open 4
Appartenenza
  • Dipartimento di Biotecnologie Mediche 1
  • Dipartimento di Biotecnologie, Chimica e Farmacia 5
  • Dipartimento di Filologia e Critica delle Letterature Antiche e Moderne 15
  • Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione e Scienze Matematiche 181
  • Dipartimento di Scienze Fisiche, della Terra e dell'Ambiente 8
  • Dipartimento di Scienze Mediche, Chirurgiche e Neuroscienze 1
  • Dipartimento di Scienze Sociali, Politiche e Cognitive 1
  • Università degli Studi di Siena 1