Della Giovampaola, C., Albani, M., Capolino, F. (2011). Investigation on Subwavelength Focusing Properties of Metal-Dielectric Multilayer. In Fifth International Congress on Advanced Electromagnetic Materials in Microwaves and Optics (METAMATERIAL 2011).
Investigation on Subwavelength Focusing Properties of Metal-Dielectric Multilayer
C. Della Giovampaola;ALBANI, MATTEO;
2011-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11365/44106
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo