Panzardi, E., Tani, M., Landi, E., Fort, A., Mugnaini, M., Cappelli, I., et al. (2026). Assessment of Temperature-Profiled MOX Measurements in Multi-Node Mobile IoT Platforms. In 2026 IEEE International Workshop on Metrology for Automotive (MetroAutomotive) (pp.60-65) [10.1109/MetroAutomotive69354.2026.11644625].
Assessment of Temperature-Profiled MOX Measurements in Multi-Node Mobile IoT Platforms
Panzardi E.;Tani M.;Landi E.;Fort A.;Mugnaini M.;Cappelli I.;Parrino S.;Vignoli V.
2026-01-01
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https://hdl.handle.net/11365/1325768
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