Burresi, G., Lorusso, M., Graziani, L., Comacchio, A., Trotta, F., Rizzo, A. (2021). Image-based defect detection in assembly line with Machine Learning. In 2021 10th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) (pp.1-5). IEEE [10.1109/MECO52532.2021.9460291].

Image-based defect detection in assembly line with Machine Learning

Burresi, Giovanni;Lorusso, Martino;Graziani, Lisa;Comacchio, Alice;Rizzo, Antonio
2021-01-01

978-1-6654-3912-1
Burresi, G., Lorusso, M., Graziani, L., Comacchio, A., Trotta, F., Rizzo, A. (2021). Image-based defect detection in assembly line with Machine Learning. In 2021 10th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) (pp.1-5). IEEE [10.1109/MECO52532.2021.9460291].
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11365/1218518