PINO, FRANCESCA

PINO, FRANCESCA  

Università degli Studi di Siena  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File Abstract
Online Dark Count Rate Measurements in 150 nm CMOS SPADs Exposed to Low Neutron Fluxes 1-gen-2024 Ratti, L.; Brogi, P.; Collazuol, G.; Betta, G. -F. D.; Delgado, J. C.; Marrocchesi, P. S.; Minga, J.; Morsani, F.; Pancheri, L.; Pino, F.; Selva, A.; Stolzi, F.; Torilla, G.; Vacchi, C. -